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三箱式冷熱沖擊試驗箱選型

簡要描述:三箱式冷熱沖擊試驗箱選型為整體式結(jié)構(gòu),由箱體、低溫制冷系統(tǒng)、電控系統(tǒng)及閥門換氣系統(tǒng)四大部分構(gòu)成;工作室在箱體上前部,預冷室位于箱體的前下部,預熱室位于箱體后上部,電控系統(tǒng)位于箱體的右側(cè)面,制冷系統(tǒng)置于后下部。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-10-16
  • 訪  問  量: 959

詳細介紹

三箱式冷熱沖擊試驗箱選型

三箱式冷熱沖擊試驗箱應用

 執(zhí)行與滿足標準:

  1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

  2、GB/T2423.2-2001;

  3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

  4. GJB150.3-86;

  5. GJB150.4-86;

  6. GJB150.5-86;

  7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

  8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

  9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

  10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;

  11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;

  12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

  10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;

  11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

  12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

  13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

冷熱沖擊實驗箱規(guī)格/SPEC:(可根據(jù)用戶產(chǎn)品尺寸進行設計定制)

型 號:OK-TS-49OK-TS-80OK-TS-150OK-TS-225
內(nèi)部尺寸(W×H×D)cm40×35×3050×40×4060×50×5070×60×60
外部尺寸(W×H×D)cm145×180×140150×185×145185×150×250190×170×270
蓄熱區(qū)儲能溫度范圍 RT (常溫)~+200℃
蓄冷區(qū)儲能溫度范圍 RT (常溫)~ -70℃
測試區(qū)實驗溫度范圍 熱沖實驗(+60℃~+150℃ )
冷沖實驗(A:0℃~-45℃/ B:0℃~-55℃ / C:0℃~-65℃)
沖 擊 方 式 試品靜止(氣動氣缸風門切換高/低溫箱)
蓄熱區(qū)預熱時間 RT~150℃ 約 30分
蓄冷區(qū)預冷時間 RT~-70℃ 約 85分
沖擊恢復時間 低于5min
溫度控制精度 ±0.5℃
溫度均勻度 ±2.0℃
冷凍系統(tǒng)全密閉式或半密閉式壓縮機,環(huán)保冷媒(R404A/R23)
材    質(zhì) 內(nèi)箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。
保溫材質(zhì) 高強度防火PU發(fā)泡絕緣材料
配   件 引線孔:¢50mm 1個/不銹鋼SUS #304板置物架(二層)
電    源電源線位于機器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長2.5米

 三箱式冷熱沖擊試驗箱選型

用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具.




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