冷凍箱內(nèi)部導線傳導耦合原理分析

      低溫低濕試驗箱是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領域的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行耐干、耐旱、耐寒、耐潮濕等試驗溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

      冷凍箱內(nèi)部導線傳導耦合原理分析

      傳導耦合是騷擾源與敏感器件之間的主要耦合途徑之一，分為電容性耦合和電感耦合兩種方式。由于變頻冷凍箱的結構出現(xiàn)電容性耦合的概率要大于電感性耦合，本文只對電容性耦合進行分析。

      為解決冷凍箱內(nèi)傳導耦合的影響，我們提出取消獨立濾波器，采用從主板出線的方式，減少箱體內(nèi)傳導耦合的影響。去除獨立濾波器會導致整個濾波電路的阻抗特性發(fā)生變化，會導致騷擾功率、騷擾電壓裕量減少甚至超標，騷擾電壓、功率數(shù)據(jù)明顯變差。
阻性負載的影響

      根據(jù)主控板PCB布局以及冷凍箱負載分析得出：箱內(nèi)線性器件化霜加熱器為敏感器件，箱內(nèi)壓縮機UVW線為干擾源，化霜加熱器在箱體內(nèi)的位置與壓縮機UVW線的位置滿足傳導耦合的條件，導致干擾通過化霜加熱器流入電源線中，從而導致冷凍箱電磁騷擾超標。

      針對該問題，將化霜加熱器取電位置改為主板濾波電路后。即把濾波電路前端取電的阻性負載（如化霜加熱器、翻轉梁加熱器）調整至濾波電路后端取電，讓干擾通過濾波電路濾波，防止出現(xiàn)濾波失效的問題。優(yōu)化后騷擾電壓裕量增加，符合標準要求。